子元器件老化測試，蒸氣老化試驗(yàn)箱

型　號

產(chǎn)品時間2025-04-20

所屬分類蒸汽式老化試驗(yàn)箱

報價

產(chǎn)品描述：湖北高天蒸汽老化試驗(yàn)箱，蒸汽老化試驗(yàn)箱適用于子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產(chǎn)業(yè)、子零組件金屬等材料進(jìn)行老化加速壽命試驗(yàn)。

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產(chǎn)品概述

子元器件老化測試，蒸氣老化試驗(yàn)箱

湖北高天蒸汽老化試驗(yàn)箱，蒸汽老化試驗(yàn)箱適用于子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產(chǎn)業(yè)、子零組件金屬等材料進(jìn)行老化加速壽命試驗(yàn)。

蒸汽老化試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)型號：

產(chǎn)品型號：GT-ZQ-34

內(nèi)部尺寸：50X40X17 CM （W*H*D）

外部尺寸：60X50X42 CM （W*H*D）

溫度范圍：Upto97℃

控制器：PID微腦控制

加熱方式：PID+SSR

升溫時間：約45分鐘

計時器：9999分

壓：220V

熱（KW）：2

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